Надёжность электронных средств измерений
В.С. Грубник, Ю.М. Крысин
Рассматриваются основные теории, критерии и количественные характеристики надёжности электронных средств измерений. Большое внимание уделено оценке количественных характеристик надёжности интегральных микросхем, индикаторов, трансформаторов, коммутирующих устройств, полупроводниковых приборов, резисторов, конденсаторов, печатных плат. На данный момент является сетевым эксклюзивом
Կատեգորիաներ:
Տարի:
2001
Հրատարակչություն:
Изд. Пензенского Государственного Университета
Լեզու:
russian
Էջեր:
60
Ֆայլ:
DJVU, 1.34 MB
IPFS:
,
russian, 2001
Litres
Ցանկանու՞մ եք գրախանութ ավելացնել: Խնդրում ենք կապնվել մեզ հետ support@z-lib.do միջոցով
File converter
Բացել որոնման արդյունքները
More benefits 
